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電子計測器
Anritsu センシング＆デバイスカンパニー技術セミナー
非接触で高分解能計測を実現する波長掃引光源の紹介
当社が開発した波長掃引光源は、非接触方式による高精度距離計測、３D形状計測に最適であり、特に高コヒーレンス性を活かすことで、従来のTOF方式や白色干渉方式では困難であった高精度と広い測長範囲の両立を実現できる。
本セミナーでは、波長掃引光源を使用した光干渉方式の１つであるOFDR法について解説し、実際の応用例を紹介する。
＊本セミナーは2020年11月時点の情報に基づいた内容となります。最新情報に関しては弊社へお問合せください。
