アンリツWebセミナー
光を用いたOFDR法による3D形状計測 セミナー
2020年11月26日(木)
光を用いたOFDR法による3D形状計測 10 : 30 ~ 11 : 30
(定員 80名)
定員に達することも予想されますので、参加をお考えの方はお早めにお申し込みください。
本ウェブセミナーは無料となっております。
光を用いたOFDR法による3D形状計測 Webセミナー
◆ 光を用いたOFDR法による3D形状計測 セミナー内容【予定】:10 : 30 ~ 11 : 30 60分 質疑応答終了後適宜
高コヒーレンス波長掃引光源を用いたOFDRと3D形状測定への応用
1.従来の形状測定方法
2.光を使った距離、形状測定
3.OFDRによる距離測定
4.OFDR測定結果
5.形状測定
6.まとめ
1.従来の形状測定方法
2.光を使った距離、形状測定
3.OFDRによる距離測定
4.OFDR測定結果
5.形状測定
6.まとめ
◆波長掃引光源とOFDR測定について セミナー詳細【予定】
光を応用した非接触計測は、現場環境の問題解決(例えば対象物への接触を避ける、人の介在を避ける)、厳しい環境(高温、火花・放電、高電磁界、真空など)にある対象物の計測を可能にするなど活用の場が増している。
本セミナーでは、波長掃引光源を使用した光干渉方式の1つであるOFDR※法について解説し、実際の応用例として、測定対象物を1~2m離れた位置からサブミクロンの精度で形状計測した結果を紹介します。非接触方式による高精度距離計測、3D形状計測に最適な波長掃引光源は、特に高コヒーレンス性を活かすことで、従来のTOF方式や白色干渉方式では困難であった高精度と広い測長範囲の両立を可能にします。
※ OFDR:Optical Frequency Domain Reflectometry
本セミナーでは、波長掃引光源を使用した光干渉方式の1つであるOFDR※法について解説し、実際の応用例として、測定対象物を1~2m離れた位置からサブミクロンの精度で形状計測した結果を紹介します。非接触方式による高精度距離計測、3D形状計測に最適な波長掃引光源は、特に高コヒーレンス性を活かすことで、従来のTOF方式や白色干渉方式では困難であった高精度と広い測長範囲の両立を可能にします。
※ OFDR:Optical Frequency Domain Reflectometry
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◆主催者
アンリツ株式会社
◆対象となるお客様
・産業用OCT、精密計測・検査、振動計測における測長・測距、形状計測などにご関心のある方
・医療用OCT、ファイバセンシング用装置の製品を扱っている方
・インフラ/プラント分野で大型構造物の形状、変位、ファイバセンシングなどにご関心をお持ちの方
・医療用OCT、ファイバセンシング用装置の製品を扱っている方
・インフラ/プラント分野で大型構造物の形状、変位、ファイバセンシングなどにご関心をお持ちの方
申し込みリンク
*お一人様につき、1席のみのお申し込みとさせて頂きます。
波長掃引光源とOFDR測定について
2020年11月26日(木)10 : 30 ~ 11 : 30
(入場時間:10 : 00)
(入場時間:10 : 00)
受付開始
2020年11月17日(火) 9:00より
満席になりました
※定員に達した場合、受け付け終了となります
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ダウンロード
- ・リーフレットPDF リーフレットダウンロード
- ・資料PDF セミナー内容要綱
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◆お問い合わせ先
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アンリツ株式会社センシング&デバイスカンパニー 国内営業部
Tel: 046-296-1228 Email: [email protected]
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