SEMICON　Japan 2015

SEMICON Japan 2015

2015/12/16 - 2015/12/18　　東京ビッグサイト　東2ホール　小間番号　2234

アンリツは、SEMICON Japan 2015 に出展します。

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Sパラメータからジッタ耐力まで

～半導体デバイスの真の実力を把握できるアンリツの測定ソリューション～

＝展示品のご案内＝

プローブステーションを使用したオンウェハ測定ソリューション

差動デバイスの Sパラメータ測定に適したベクトルネットワークアナライザ

ベクトルネットワークアナライザ MS4640Bシリーズ
4portテストセット　MN479xC

●周波数：70 kHz～70 GHz の同軸測定に一筐体で対応
●2信号源内蔵（オプション31）、 Differential ViewTM（オプション43）にて真の差動モード測定に対応
●Differential ViewTM（オプション43）は、パラメータを変更しながらリアルタイム測定が可能

ハイビットレートBER測定ソリューション

ハイスピードな半導体の真の実力を評価できるパルスパターン発生器、およびビットエラー測定器

シグナルクオリティアナライザ
MP1800A

●パルスパターン発生器が発生する信号は、ジッタが700 fsRMS、Tr/Tfが12 psという高品質な波形
●RJ/SJ/BUJ/SSCを付加したジッタトレランス試験が可能
●エラーディテクタは低振幅/低EyeOpening（10 mVpp）のDUTをビットエラー測定することが可能
●100 Mbit/s～32.1 Gbit/sの信号を最大8chを同時に測定することが可能

低価格BER測定ソリューション

多チャネル信号を処理する半導体などを評価できる、Scope と一体型の12.5 Gbit/s 多チャネルBERTS

BERTWave
MP2100B

●4chBER測定、アイパターン/ジッタ解析を1台で実現。片手で持ち運び可能なコンパクトな筐体
●BER測定：ビットレート 125 M～12.5 Gbit/s
●サンプリングオシロスコープ測定：100 M～12.5 Gbit/s
●電気/光インタフェースの伝送特性評価（BER測定、アイパターン/ジッタ解析）に