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ベクターセミコン(株)殿のご協力により高周波プローブステーションを用いた測定技術に関して共同で技術セミナーを開催いたします。 満席になることも予想されますので、参加をお考えの方はお早めにお申し込み下さい。 本セミナーは無料となっております。
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高周波及びミリ波帯のオンウェハデバイスを測定するために重要となる、高周波プローブステーションにおける、ウェハプロービングの最新技術と、Sパラメータ等デバイスの特性を測定するVNAの最新の測定技術に関して丁寧にご説明いたします。
日ごろの疑問の解決に、また初学の場としてお役立てください。
◆ セミナー内容【予定】
セミナーは3部構成となっており、プローブステーションを用いたプロービング技術や最新のVNAの機能・性能に関してデモ機を用いて解説を致します。
第一部 |
“RF Calibration made easy: how to become the expert in our hour?” 最新の校正技術について “THz measurements made easy: how to obtain confident results in shortest time?” 最新のTHz測定について 講師:MPI Corporation Mr. Andrej
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第二部 |
プローブステーションとVNAを用いたRF測定 講師:ベクターセミコン株式会社
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第三部 |
最新VNAによるオンウエハ測定ソリューション 講師:アンリツ株式会社
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◆ 開催日時/会場
*1社につき複数名のお申し込みをされる場合は、ご相談させて頂くことがございます。
*お一人様につき、1席のみのお申込みとさせて頂きます。
日付 |
開催会場 |
開催時間 |
定員 |
お申し込み |
9月 5日(月)
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東京: 双英ビル2F 会議室A 東京都新宿区西新宿8-14-21
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13:00~16:00 (受付時間:12:30~13:00)
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20
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受付終了しました
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9月 7日(水)
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大阪: SRビル江坂(旧 NF江坂ビル) 中会議室D 大阪府吹田市江坂町1-13-41
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13:00~16:00 (受付時間:12:30~13:00)
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20
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受付終了しました
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□■□ 注意事項 □■□ お申込みいただく前に、ご確認ください。
・同一企業より複数名のお申し込みをいただいた場合には、 人数調整を行わせていただく場合がございます。
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