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ベクターセミコン(株)殿のご協力により高周波プローブステーションを用いた測定技術に関して共同で技術セミナーを開催いたします。 |
セミナー詳細 |
マイクロ波及びミリ波帯の周波数で使用される、高周波プローブステーションにおける、ウェハや基板などのプロービングに関する最新技術と、
Sパラメータ等デバイスの特性を測定するVNAの最新の測定技術に関して丁寧にご説明いたします。
日ごろの疑問の解決に、また初学の場としてお役立てください。
本セミナーは3部構成となっており、プローブステーションを用いたプロービング技術と最新のVNAの機能・性能に関して実機をご覧頂きながら
解説を行います。
第一部 |
RF Calibration made easy: how to become the expert in our hour? |
第二部 |
プローブステーションの基本とTS50ハンズオン
講師:ベクターセミコン株式会社 |
第三部 |
オンウェハ測定におけるベクトルネットワークアナライザの有効な機能と最新機種紹介
講師:アンリツ株式会社 |
*1社につき複数名のお申し込みをされる場合は、ご相談させて頂くことがございます。
*お一人様につき、1席のみのお申込みとさせて頂きます。
日付 | 開催会場 | 開催時間 | 定員 | お申し込み |
5月 23日(火) |
東京: |
13:00~16:00 |
20 |
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5月25日(木) |
大阪: |
13:00~16:00 |
20 |
□■□ 注意事項 □■□ お申込みいただく前に、ご確認ください。 ・同一企業より複数名のお申し込みをいただいた場合には、 ・お申し込みは、1つのメールアドレスにつき1回のみ有効です。 |